セリアムオキシドセリア フォトマスク用風車ガラス磨き粉 空白宝石2.0μm
製品詳細
| 粒子サイズ: | 2.0±0.2μm | CAS番号: | 1306-38-3 |
|---|---|---|---|
| CeO₂: | 99% | 停止率: | 高い |
| Ph 範囲: | 7-10 | 配合: | カスタマイズされた |
| ハイライト |
セリアのフロントガラスの磨き粉,2.0μm フロントガラスの磨き粉,セリア 宝石の磨き粉 |
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製品の説明
低欠陥セリウムオキシド フォトマスクの空白磨き用
記述
低欠陥セリウムオキシドは 半導体製造における フォトマスクのプリキュア・ポーリング用に 特別に作られています欠陥を最小限に抑え 完璧な仕上げを保証するこの高性能セリウム酸化物は 表面の質が重要な photomaskアプリケーションに理想的です. 卓越した磨き効率と表面の整合性を提供します.私たちのセリウムオキシドは,光学的な明晰度と次元精度の最高水準を保証します 写真マスクの空白処理.
主要な特徴:
低欠陥製剤: 粒子汚染と欠陥を減らすために設計されたこのセリウム酸化物は,非常に一貫して均質な表面仕上げを保証します.半導体光立光学に使用される光面膜の空白用品にとって重要な.
高純度セリウム酸化物:高純度セリウム酸化物で製造されたこの磨き粉は,表面の質を損なうことなく,例外的な材料除去率を提供します.欠陥を最小限に抑え 傷痕のない結果を確保する.
微細粒子の大きさ分布:粉末の微細粒子の大きさにより,正確な磨きが可能で,光面マスクの空白の製造に必要な滑らかで欠陥のない表面を達成できます.
表面汚染を減らす セルিয়াম酸化物製剤は 粒子汚染のリスクを最小限に抑えるフォトマスクの空白表面が,フォトリトグラフィーのプロセスを妨げるような不必要な残留物から解放されることを確保する..
効率的な磨き性能: 撮影マスクの空白の整合性を保ち,磨き時間を短縮し,生産効率を向上させながら,最適な材料除去を提供します.
技術データ
| 分子式 | CAS番号 | CeO2 % | D50 (μm) | 外見 | 適用する |
| CeO2 | 1306-38-3 | 99% | 2.0±02 | 白い粉末 | 半導体 |
Q&A
1稀土の磨き粉とは?
光学部品や半導体ウェーファーや ガラスやレンズなどの繊細な表面を 磨くのに使用される 高純度化合物です高透明度で材料を損傷することなく仕上げ.
2稀土の磨き粉を どう選べますか?
理想的な磨き粉を選ぶには,磨いている材料,必要な仕上げ,粒子の大きさや純度などの要素を考慮してください.あなたのニーズに最適な製品を選択するのに役立ちます..
3稀土の磨き粉を どうやって保管すればいいですか?
温かい乾燥した場所に保管し,湿度や日光から遠ざけます. 汚染を防止し有効性を維持するために,粉末を気密容器に保管します.通常は1〜2年続きます.
4稀土の製剤を 提供していますか?
はい,私たちは,あなたの特定のニーズを満たすために,細粒子のサイズ,化学的組成,またはスラムの一貫性調整を含む,カスタム稀土の磨き粉やスラムを提供しています.
5大量注文する前にサンプルを貰えますか?
絶対! 評価のためにサンプルを用意します. サンプルを依頼するためにチームに連絡してください. そして私たちは出荷を整理します.
6どうすれば注文できますか? 典型的な配達時間は?
注文をするには,単に販売チームと連絡してください. 彼らはプロセスを通してあなたを案内し,オートを提供します. 配達時間は,注文のサイズ,場所,および在庫の可用性によって異なります.オーダーが確認されたら 予定表を教えます.
製品 ハイライト
低欠陥セリウムオキシド フォトマスクの空白磨き用 記述 低欠陥セリウムオキシドは 半導体製造における フォトマスクのプリキュア・ポーリング用に 特別に作られています欠陥を最小限に抑え 完璧な仕上げを保証するこの高性能セリウム酸化物は 表面の質が重要な photomaskアプリケーションに理想的です. 卓越した磨き効率と表面の整合性を提供します.私たちのセリウムオキシドは,光学的な明晰度と次元精度の最高水準を保証します 写真マスクの空白処理. 主要な特徴: 低欠陥製剤: 粒子汚染と欠陥を減らすために設計されたこのセリウム酸化物は,非常に一貫して均質な表面仕上げを保証します.半導体光立光学に使用さ...
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