Poudre de polissage de Ceria de qualité CMP pour la fabrication de verre optique et de photonique
Détails de produit
| Pureté: | 99,5 – 99,9 % | Distribution de dimension particulaire: | PSD étroit |
|---|---|---|---|
| Taille médiane des particules: | 0,5 – 0,9 μm | pH (préparation du lisier): | 6,5 – 7,5 |
| Stabilité de la sédimentation: | Excellent | Niveau d'impureté: | très réduit |
| Mettre en évidence |
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Description de produit
Poudre de polissage de Ceria de qualité CMP pour la fabrication de verre optique et de photonique
Vue d'ensemble du produit
Cette poudre de polissage de ceria de qualité CMP est optimisée pour les procédés de polissage chimique-mécanique utilisés dans la fabrication d'optiques et de photonique avancées.L'activité chimique équilibrée et l'action mécanique permettent un excellent contrôle des rayures et un polissage uniforme sur de grands substrats.
Développé pour les systèmes de polissage automatisés largement utilisés dans les usines de fabrication optique américaines.
Distribution de la taille des particulesLe gouvernement

Applications
- Substrats de verre optique
- Plaquettes photoniques
- connecteurs à fibre optique
- Composants optiques infrarouges
- Éléments optiques AR/VR
Pourquoi choisir Lichen comme fournisseur mondial
- Fabricant dédié au polissage de céramique et d'alumine
- Chaîne d'approvisionnement stable en matières premières de terres rares
- Capacité personnalisée de génie des particules
- Contrôle de qualité cohérent par lot
- Assistance technique pour l'optimisation du processus de polissage
Points forts du produit
Poudre de polissage de Ceria de qualité CMP pour la fabrication de verre optique et de photonique Vue d'ensemble du produit Cette poudre de polissage de ceria de qualité CMP est optimisée pour les procédés de polissage chimique-mécanique utilisés dans la fabrication d'optiques et de photonique avanc...
Poudre de polissage à l'oxyde de cérium de qualité semi-conducteur pour wafer et substrats avancés
Semiconductor Grade Cerium Oxide Polishing Powder for Wafer & Advanced Substrates Product Overview Semiconductor Grade Cerium Oxide Polishing Powder is formulated for defect-sensitive polishing applications in semiconductor and advanced electronic substrate manufacturing. The controlled purity and particle engineering reduce contamination risks while ensuring consistent planarization performance. Optimized for preparation of CMP slurries used in semiconductor wafer processing
Poudre de polissage à l'oxyde de cérium ultrafin pour les cristaux laser et l'optique de précision
Ultra-Fine Cerium Oxide Polishing Powder for Laser Crystals & Precision Optics Product Overview Ultra-Fine Cerium Oxide Polishing Powder is developed for ultra-precision polishing processes requiring superior surface finish and minimal subsurface damage. The refined particle distribution enables smooth finishing of laser crystals and advanced optical materials used in high-performance photonics systems. Ideal for final polishing stages demanding nanometer-level surface
Poudre de polissage à l'oxyde de cérium à taux d'élimination élevé pour le traitement du verre optique
High Removal Rate Cerium Oxide Polishing Powder for Optical Glass Processing Product Overview High Removal Rate Cerium Oxide Polishing Powder is engineered for efficient polishing of optical glass components requiring fast material removal and stable surface quality. The optimized particle morphology provides excellent chemical-mechanical interaction with glass substrates, enabling improved productivity without compromising surface finish. Designed for large-scale precision
Ceria CMP sans rayures Slurry pour le polissage des plaquettes de semi-conducteurs et de silicium
Scratch-Free Ceria CMP Slurry for Semiconductor & Silicon Wafer Polishing Product Overview Scratch-Free Cerium Oxide CMP Slurry is specially formulated for semiconductor wafer and advanced substrate polishing where defect control and ultra-smooth surfaces are critical. The engineered nano-scale ceria particles provide superior defect reduction while maintaining stable removal efficiency. Ideal for silicon wafer finishing and precision semiconductor fabrication processes. Key
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